導熱硅膠片耐高溫老化性能測試方法

導熱硅膠片耐高溫老化性能測試方法：

目的：

老化，是指產(chǎn)品或者零部件受到光，溫度等不同條件的輻射或影響下所產(chǎn)生的外觀或者是產(chǎn)品性能的改變。

測試條件：溫度26℃，濕度42%RH下進行。

判斷尺度：

1、重量損失小于1%；

2、高溫后全部化學物理性能穩(wěn)定。

3、選取10個試樣，在35 ℃的干燥箱內(nèi)放置80--100h；

4、將試樣放入200℃的烘箱內(nèi)連續(xù)烘干200h；

5、取出試樣置放于35 ℃的干燥箱內(nèi)80--100h；

6、分別準確稱量10個試樣的重量G1；

7、再次分別準確稱量10個試樣的重量G2；

8、盤算重量損失：(G1-G2)/G1×100%。

測試方法：

1、測試導熱硅膠片初始參數(shù)：導熱系數(shù)、硬度、抗拉強度、耐電壓、體積電阻、阻燃等級等；

2、快速溫度反復沖擊：將所測試導熱硅膠片在低溫-40℃時保持30分鐘，并快速將溫度上升到120℃并保持30分鐘，如此連續(xù)沖擊500個循環(huán)；

3、取出導熱硅膠片，在室溫環(huán)境下放置30分鐘，測試沖擊后導熱硅膠片的各參數(shù)：導熱系數(shù)、硬度、抗拉強度、耐電壓、體積電阻、阻燃等級等，與初始參數(shù)值作出量化對比與分析；

4、根據(jù)量化對比與分析，推斷出該導熱硅膠片的使用壽命年限。